奧林巴斯X射線熒光（XRF）礦石分析儀提供高性能的實(shí)時(shí)地球化學(xué)數(shù)據(jù)，用于土壤重金屬，巖石成分和礦石品位和元素含量的分析。奧林巴斯X射線熒光（XRF）礦石分析儀技術(shù)的最新進(jìn)展增加了測量元素的數(shù)量，提高了檢測限，并縮短了分析測試時(shí)間。

Vanta?XRF礦石分析儀可用于金礦的現(xiàn)場測試，金礦實(shí)驗(yàn)室測試和精制金礦產(chǎn)品的快速測量勘探。

優(yōu)點(diǎn)：
1.通過XRF礦石元素分析儀分析土壤重金屬，巖石和礦石中的元素，快速顯示潛在的Au礦分布情況；
2.通過使用XRF礦石元素分析儀預(yù)篩選樣品，優(yōu)先樣品選擇，分析預(yù)算和選定鉆孔目標(biāo)；
3.通過XRF礦石元素分析儀繪制結(jié)構(gòu)特征圖，建模和矢量化，減少稀釋和做好金礦的回收；
4.通過使用XRF礦石元素分析儀進(jìn)行巖石地球化學(xué)的簡單和快速巖石類型分析；


用于礦物勘探和礦體矢量的金分析和探測的便攜式XRF礦石元素分析儀
                                         

金礦床的相關(guān)地球化學(xué)特征

大多數(shù)金礦床都有特定的地球化學(xué)特征。XRF礦石元素分析儀分析儀可以檢測這些地球化學(xué)特征，使地質(zhì)學(xué)家能夠更好地了解他們工作的地質(zhì)系統(tǒng)。典型的金探測的伴隨元素包括As，Cu，Pb，Zn，Sb，Bi，Ag和W.

采用Vanta VMR GeoChem模式的XRF礦石元素分析儀的檢測下限：

*每束120秒的測試時(shí)間，無干擾的SiO2基質(zhì); 有關(guān)檢測下限（LOD）的進(jìn)一步討論，請(qǐng)參閱廣宇科技OLYMPUS LOD文檔

用于檢測金的XRF礦石元素分析儀分析儀

眾所周知，手持式XRF礦石元素分析儀分析儀不支持在地質(zhì)樣品中直接低水平測量Au（例如，低ppm和ppb）?；趯?shí)驗(yàn)室的火試驗(yàn)技術(shù)通常被認(rèn)為是Au分析的首選方法。Au L級(jí)X射線位于X射線熒光能譜的非常擁擠的區(qū)域中。在該部分光譜中，來自其他元素（例如，As，Zn，W和Se）的干擾可以產(chǎn)生假陽性Au測定。

通過XRF礦石元素分析儀直接測量Au可以在特定情況下實(shí)現(xiàn)，例如高含量的（> 5ppm）石英脈環(huán)境（相對(duì)無干擾）或精制Au產(chǎn)品（其中Au以非常高的濃度存在）。

因此：越來越多的Au現(xiàn)場采礦實(shí)驗(yàn)室正在使用XRF礦石元素分析儀代替實(shí)驗(yàn)室的火試驗(yàn)技術(shù)。