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Vanta手持式重金屬手持式光譜儀是一款用于對(duì)土壤和其它材料進(jìn)行篩查以探測(cè)出污染重金屬的重要工具。嵌入式GPS功能可以將檢測(cè)結(jié)果與其相應(yīng)的GPS坐標(biāo)結(jié)合在一起，從而使手持式光譜儀具有追溯樣本到野外的性能。Vanta手持式光譜儀可以方便地將GPS數(shù)據(jù)和樣本數(shù)據(jù)以Wireless LAN方式傳輸?shù)紾IS，以繪制出污染金屬的映射圖。這款手持式光譜儀可在場(chǎng)地定性、環(huán)境評(píng)估、房產(chǎn)評(píng)估及污染物跟蹤方面快速得到具有決策性的結(jié)果。Vanta手持式光譜儀在數(shù)秒鐘之內(nèi)可檢測(cè)出RCRA（《資源保護(hù)及恢復(fù)法案》）中所規(guī)定的危險(xiǎn)性高含量元素、需優(yōu)先考慮的污染物質(zhì)，以及危險(xiǎn)金屬。
XRF（X射線熒光光譜）是一種廣泛應(yīng)用于元素分析的非破壞性測(cè)試技術(shù)。它基于X射線與物質(zhì)相互作用的原理，通過測(cè)量物質(zhì)中熒光輻射的能量和強(qiáng)度來確定樣品中的元素組成和含量。
XRF技術(shù)主要有兩種常見類型：能譜儀和熒光光譜儀。能譜儀使用固態(tài)探測(cè)器來測(cè)量不同能量范圍的X射線，并生成X射線能譜圖，然后根據(jù)能譜圖分析元素的存在和相對(duì)含量。熒光光譜儀則使用熒光體來轉(zhuǎn)換X射線為可見光，并通過光譜儀測(cè)量熒光光譜，從而分析元素的存在和含量。
焦距：300mm
波長范圍：300nm
光管功率：4W
光管電壓/電流：最大40kV/200uA
測(cè)試范圍：金屬檢測(cè)（標(biāo)準(zhǔn)配置Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Au,W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Mg, Al, Si, S, P等元素）
Vanta手持式重金屬手持式光譜儀是一款用于對(duì)土壤和其它材料進(jìn)行篩查以探測(cè)出污染重金屬的重要工具。嵌入式GPS功能可以將檢測(cè)結(jié)果與其相應(yīng)的GPS坐標(biāo)結(jié)合在一起，從而使手持式光譜儀具有追溯樣本到野外的性能。Vanta手持式光譜儀可以方便地將GPS數(shù)據(jù)和樣本數(shù)據(jù)以Wireless LAN方式傳輸?shù)紾IS，以繪制出污染金屬的映射圖。這款手持式光譜儀可在場(chǎng)地定性、環(huán)境評(píng)估、房產(chǎn)評(píng)估及污染物跟蹤方面快速得到具有決策性的結(jié)果。Vanta手持式光譜儀在數(shù)秒鐘之內(nèi)可檢測(cè)出RCRA（《資源保護(hù)及恢復(fù)法案》）中所規(guī)定的危險(xiǎn)性高含量元素、需優(yōu)先考慮的污染物質(zhì)，以及危險(xiǎn)金屬。
XRF具有非破壞性、快速、準(zhǔn)確、多元素分析等優(yōu)點(diǎn)，可以在實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行樣品分析。
非破壞性：XRF技術(shù)是一種非破壞性測(cè)試方法，樣品在進(jìn)行分析時(shí)不需要在物理上被破壞或改變。這使得XRF技術(shù)適用于珍貴、歷史或不可逆的樣品。
全元素分析：XRF可以同時(shí)分析樣品中的多種元素，包括金屬和非金屬等。它能夠提供關(guān)于樣品組成和含量的全面信息。
快速分析：XRF技術(shù)具有快速分析的優(yōu)勢(shì)，通常只需要幾分鐘即可完成一個(gè)樣品的分析。這對(duì)于大批量樣品分析、流程控制和實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)非常有益。
靈敏度范圍廣：XRF技術(shù)可以檢測(cè)樣品中的元素濃度范圍很寬，從百分比級(jí)別到亞ppm（百萬分之一）級(jí)別的濃度都可以測(cè)量。
多種樣品類型適用：XRF技術(shù)適用于固體、液體和氣體樣品的分析。不同形態(tài)和性質(zhì)的樣品可以通過相應(yīng)的前處理方法進(jìn)行準(zhǔn)備和分析
XRF技術(shù)在許多領(lǐng)域和應(yīng)用中被廣泛使用，包括金屬材料分析、礦石勘探、環(huán)境監(jiān)測(cè)、考古學(xué)、藝術(shù)品鑒定等。
金屬和合金分析
XRF可以用于金屬和合金的化學(xué)成分分析，如不銹鋼、鋁合金、銅合金等。它被廣泛應(yīng)用于金屬制造、質(zhì)檢、回收和研發(fā)等領(lǐng)域。
礦石勘探和礦物分析
XRF可以用于快速分析礦石樣品中各種元素的含量，幫助礦產(chǎn)資源勘探和評(píng)估。同時(shí)，它也可以用于礦物學(xué)研究和地質(zhì)勘探中的礦物鑒定。
SEM在納米領(lǐng)域中具有重要作用。它可以用于觀察納米材料的形貌、尺寸和分布，如納米顆粒、納米線、納米薄膜等。此外，SEM還可以用于納米加工和納米裝配的監(jiān)測(cè)和控制。
環(huán)境監(jiān)測(cè)
XRF在環(huán)境監(jiān)測(cè)中被廣泛使用，例如土壤污染檢測(cè)、水體分析、大氣顆粒物分析等。它可以快速確定樣品中存在的有害元素或污染物，提供環(huán)境質(zhì)量評(píng)估和監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)。
建筑材料分析
XRF可以用于建筑材料中各種元素的定量分析，如混凝土、鋼筋、涂料、玻璃等。它可用于建筑質(zhì)量控制、歷史建筑保護(hù)和建筑材料研究等方面。
考古學(xué)
XRF可以用于考古學(xué)中的文物和古代工藝品的分析，以了解其制作材料、年代和起源。它有助于文化遺產(chǎn)保護(hù)、鑒定和修復(fù)工作。
藥品和食品安全
XRF可以用于藥品和食品中有害元素的檢測(cè)，如重金屬污染物。它在藥物生產(chǎn)和食品安全監(jiān)測(cè)中發(fā)揮著重要作用。
煤炭和能源領(lǐng)域
XRF可用于煤炭和能源領(lǐng)域中燃料和礦石的分析，例如煤礦勘探、煤炭品質(zhì)控制和火力發(fā)電中的灰分分析等。
測(cè)試案例展示
XRF測(cè)試須知
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品粒度小于200目，完全烘干，送樣前請(qǐng)確保樣品量滿足要求；
2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其它合金不小于1mm，其它材料厚度需滿足3-5mm；
3.檢測(cè)單元表面盡量平整，整塊的固體樣品，當(dāng)樣品尺寸直徑在29mm~50mm，高度在30mm以下，可以直接測(cè)試。當(dāng)樣品尺寸直徑在24mm以下，高度在20mm以下，需放入樣品池后置入固體樣品盒。
4.粉末樣品可能會(huì)使用硼酸壓片；
5.有效元素測(cè)試范圍：13Al~92U。
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